行业产品

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塔玛萨崎电子(苏州)有限公司


经营模式:代理商

商铺产品:1004条

所在地区:江苏苏州市

联系人:吴先生 (销售经理)

  • 多通道光谱仪MCPD-9800

    详细摘要: 简单介绍:多功能多通道光谱检测器,支持紫外线至近红外区域。光谱光谱至少可以在5毫秒内测量。标准光纤无需样品类型即可支持各种测量系统。除了显微光谱,光源发射,透射...

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-29 在线留言

  • 多通道光谱仪MCPD系列,用于膜厚测量

    详细摘要: 简单介绍:多通道光谱仪MCPD系列,用于膜厚测量

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-29 在线留言

  • 线扫描膜厚仪[在线型]

    详细摘要: 简单介绍:它是一种可以在薄膜生产现场在线测量薄膜厚度的装置。通过将原来的光谱干涉法与*新开发的高精度膜厚计算处理技术相结合,可以以至少测量间隔至少测量500 m...

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-29 在线留言

  • 超快光谱干涉型测厚仪

    详细摘要: 简单介绍:它以超高速,实时,高精度的晶片和树脂非接触方式测量晶片等的研磨和抛光过程。

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-29 在线留言

  • 总光通量测量系统HM / FM系列

    详细摘要: 简单介绍:它可以测量从LED到照明的各种光源的总光通量。 ・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围 ·通过控制光源的加热/冷却可以评估温度特性 ·系统...

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-29 在线留言

  • 高速相位差测量仪RE-200

    详细摘要: 简单介绍:高精度控制光轴!3σ≤0.02°用于低延迟测量

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-29 在线留言

  • 光谱椭偏仪FE-5000 / 5000S

    详细摘要: 简单介绍:除了可以进行高精度薄膜分析的椭圆偏振光谱仪之外,我们还通过实现自动可变测量机制来支持所有类型的薄膜。除了常规的旋转光子检测器方法之外,通过为延迟板提供...

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-29 在线留言

  • OTSUKA大冢高灵敏度光谱辐射仪HS-1000

    详细摘要: 简单介绍:OTSUKA大冢高灵敏度光谱辐射仪HS-1000

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-26 在线留言

  • 光谱分布测量系统GP系列

    详细摘要: 简单介绍:一种测量照明设备的配光特性的设备。・使用内部开发的分光镜可以实现高精度的测量!-可以与配光数据一起测量颜色!-即使在光谱测量中,也可以实现相当于照度计...

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-20 在线留言

  • 膜厚计FE-300

    详细摘要: 简单介绍:它是一种紧凑且价格低廉的膜厚计,可通过高精度光学干涉仪以简单的操作实现膜厚测量。我们采用了一体式的机壳,在主机中容纳了必要的设备,从而实现了稳定的数据...

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-20 在线留言

  • 单粒子荧光诊断系统

    详细摘要: 简单介绍:基于与NIMS共同开发的单颗粒诊断方法*的测量是可能的。 *与国立材料科学研究所,弘前直人研究员和武田隆史研究员共同研究

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-20 在线留言

  • 量子效率测量系统QE-2000 / 2100

    详细摘要: 简单介绍:可以立即测量优良量子效率(优良量子产率)。与粉末,溶液,固体(薄膜)和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外线区域中的杂散光。另外,通过...

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-20 在线留言

  • 紫外分光光度计

    详细摘要: 简单介绍:评估紫外线区域中光源的辐射度。・通过分光辐射度测量可以高精度地测量亮度・支持紫外,可见光和红外的宽波长测量范围・可以进行光生物学安全性评估它是可以测量...

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-20 在线留言

  • 参考测量仪RETS-100nx

    详细摘要: 简单介绍:它是一种相位差测量设备,可支持所有类型的膜,例如OLED偏振片,层压相位差膜和带IPS液晶相位差膜的偏振片。实现与超高Re.60000 nm兼容的高速...

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-19 在线留言

  • 紫外线分光光度测量系统

    详细摘要: 简单介绍:“紫外光谱辐照度测量系统IL100"评估光源在紫外区域中的辐照度。・从分光光度计测量可高精度地测量照度・从紫外线到可见光的测量波长范围宽・可选择适合于...

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-19 在线留言

  • 相位差膜・光学材料检查设备 RETS-100

    详细摘要: 简单介绍:对应范围广,从反射型・透过型type的已封入液晶的cell到带有彩色滤光片的空cell都可对应

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-19 在线留言

  • 线扫描膜厚仪[离线型]

    详细摘要: 简单介绍:该设备可以轻松地离线检查面内膜厚不均,以进行膜的研发和质量控制的抽样检查。可以高速且高精度地测量整个表面。

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-19 在线留言

  • 高速配光测量系统GP-7

    详细摘要: 简单介绍:它是一种单独评估光源或光学材料光分布的设备。实现10分钟的测量时间,分布测量常识!仅一次测量可捕获每个空间照度!支持其他公司的光学设计软件处理的数据格...

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-19 在线留言

  • 兼容装载口的膜厚测量系统GS-300

    详细摘要: 简单介绍:它是一种具有图案匹配功能且XY定位精度为2um或更小的系统。

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-19 在线留言

  • 紫外光谱光分布测量系统

    详细摘要: 简单介绍:评估UV LED的光分布特性。・根据辐射强度/辐照度评估光分布・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度可视化**和树脂固化光源的不均匀辐射。

    产品型号:所在地:更新时间:2023-04-19 在线留言

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