详细摘要： 简单介绍：多功能多通道光谱检测器，支持紫外线至近红外区域。光谱光谱至少可以在5毫秒内测量。标准光纤无需样品类型即可支持各种测量系统。除了显微光谱，光源发射，透射...
产品型号：所在地：更新时间：2023-04-29 在线留言塔玛萨崎电子（苏州）有限公司
塔玛萨崎电子（苏州）有限公司
详细摘要： 简单介绍：多功能多通道光谱检测器，支持紫外线至近红外区域。光谱光谱至少可以在5毫秒内测量。标准光纤无需样品类型即可支持各种测量系统。除了显微光谱，光源发射，透射...
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详细摘要： 简单介绍：它是一种可以在薄膜生产现场在线测量薄膜厚度的装置。通过将原来的光谱干涉法与*新开发的高精度膜厚计算处理技术相结合，可以以至少测量间隔至少测量500 m...
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详细摘要： 简单介绍：它可以测量从LED到照明的各种光源的总光通量。 ・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围 ·通过控制光源的加热/冷却可以评估温度特性 ·系统...
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详细摘要： 简单介绍：除了可以进行高精度薄膜分析的椭圆偏振光谱仪之外，我们还通过实现自动可变测量机制来支持所有类型的薄膜。除了常规的旋转光子检测器方法之外，通过为延迟板提供...
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详细摘要： 简单介绍：一种测量照明设备的配光特性的设备。・使用内部开发的分光镜可以实现高精度的测量！-可以与配光数据一起测量颜色！-即使在光谱测量中，也可以实现相当于照度计...
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详细摘要： 简单介绍：它是一种紧凑且价格低廉的膜厚计，可通过高精度光学干涉仪以简单的操作实现膜厚测量。我们采用了一体式的机壳，在主机中容纳了必要的设备，从而实现了稳定的数据...
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详细摘要： 简单介绍：基于与NIMS共同开发的单颗粒诊断方法*的测量是可能的。 *与国立材料科学研究所，弘前直人研究员和武田隆史研究员共同研究
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详细摘要： 简单介绍：可以立即测量优良量子效率（优良量子产率）。与粉末，溶液，固体（薄膜）和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外线区域中的杂散光。另外，通过...
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详细摘要： 简单介绍：评估紫外线区域中光源的辐射度。・通过分光辐射度测量可以高精度地测量亮度・支持紫外，可见光和红外的宽波长测量范围・可以进行光生物学安全性评估它是可以测量...
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详细摘要： 简单介绍：它是一种相位差测量设备，可支持所有类型的膜，例如OLED偏振片，层压相位差膜和带IPS液晶相位差膜的偏振片。实现与超高Re.60000 nm兼容的高速...
产品型号：所在地：更新时间：2023-04-19 在线留言
详细摘要： 简单介绍：“紫外光谱辐照度测量系统IL100"评估光源在紫外区域中的辐照度。・从分光光度计测量可高精度地测量照度・从紫外线到可见光的测量波长范围宽・可选择适合于...
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详细摘要： 简单介绍：对应范围广，从反射型・透过型type的已封入液晶的cell到带有彩色滤光片的空cell都可对应
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详细摘要： 简单介绍：该设备可以轻松地离线检查面内膜厚不均，以进行膜的研发和质量控制的抽样检查。可以高速且高精度地测量整个表面。
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详细摘要： 简单介绍：它是一种单独评估光源或光学材料光分布的设备。实现10分钟的测量时间，分布测量常识！仅一次测量可捕获每个空间照度！支持其他公司的光学设计软件处理的数据格...
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详细摘要： 简单介绍：评估UV LED的光分布特性。・根据辐射强度/辐照度评估光分布・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度可视化**和树脂固化光源的不均匀辐射。
产品型号：所在地：更新时间：2023-04-19 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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